光学轮廓测量仪

3D用于粗糙度测量工业

以不到AFM或3D测针轮廓仪一半的价格获得光学轮廓仪。Profilm30使用最先进的白光干涉测量法(WLI)来测量表面轮廓和粗糙度，测量精度低至0.05ym；增加PSI选项后，最小垂直特征尺寸可低至0.001pm。Profilm软件可以分析完整的图像，包括曲面和阶梯高度的表面纹理（粗糙度）。对于较大的图像，软件还可以将多个图像拼接在一起。 特征 - 100mm x 100mm的自动XY平台，运动范围为+1-5°的尖端倾斜。 - 自动Z-motion，100mm的射程 - 行业领先的500ym压电行程 - 业界领先的2mm宽视场和10倍物镜。此外，它还可以配置四位转塔，用于其他交替使用多倍物镜的应用。 - 265mm最大采样宽度 - 包括精度为0.5%的10um步高标准。其他100um、2um和4um的产品可供选择。 纹理（粗糙度）分析 对于曲面和纹理（粗糙度）表面，软件具有去除（也就是形状去除）和过滤功能。 按线型和面积划分，具有全部47个标准ASME/EUR/ISO粗糙度参数都可以支持。 1.阿尔法步法是一种破坏性测量，我们的系统采用的是一种光学非接触方法 2.可测量曲率和其他不平整表面的样品 3.同样的测量时间，比如几秒钟，这个系统可以测量几平方毫米的面积，但Alpha步进只能进行一维线性扫描。 4.可测量的更好的长宽比