该系统为LED、OLED、太阳能电池、光电二极管及各种发光材料的测量提供了最佳解决方案。它可以测量量子效率、发射光谱、I-V值、I-V值、I-V值等。
曲线、寿命、稳定性等相关特性:启动电压(Vf)-发光效率(Im/W)+发光强度(cd)+CIE、LIV和发射光谱分析(半导体带隙、结温等)。该系统还可以扩展到LED的EL图像-PLQY和发光材料的PL光谱。
偏置在正向电流(电压)下,LED的电致发光图像测量和转换效率对性能分析非常重要。通过拟合模型.可以提供PN结的温度snd进一步的信息,可以用来评估结的特性。
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