荧光光谱仪 HARPIA-TF

测量紧凑型自动化

特性 • 飞秒上转换与 TCSPC 测量集成到紧凑的机身内 • 操作简单的日常维护 • 可作为 HARPIA-TA 附加组件工作或独立单元工作 • 荧光上转换模式和 TCSPC 模式之间的轻松转换 • 可兼容 PHAROS 激光系统，支持 50 – 1000 kHz 工作重频 • 选配检测荧光上转换的模拟 PMT 探测器 概述 • 飞秒上转换与 TCSPC 测量集成到紧凑的机身内 • 操作简单的日常维护 • 可作为 HARPIA-TA 附加组件工作或独立单元工作 • 荧光上转换模式和 TCSPC 模式之间的轻松转换 • 可兼容 PHAROS 激光系统，支持 50 – 1000 kHz 工作重频 • 选配检测荧光上转换的模拟 PMT 探测器 • 光谱扫描和上转换晶体 / 棱镜的自动校正 • 从飞秒到纳秒量级的荧光动力学测量 • 完全控制以下泵浦光参数： – 偏振（使用 Becker 偏振补偿器） – 强度 （使用手动或自动的连续可变中性密度滤光片） – 门控延迟（使用光延迟线） • 使用单色仪实现光谱分辨荧光检测 • 与 HARPIA-TA 系统配合使用时，一个单色仪既可用于检测时间分辨吸收，又可测量荧光，无需更换探头。也可以选配其他的单色仪，比如可获得更高 TCSPC 时间分辨率的双重减色单色仪。 HARPIA-TF 是集合了荧光上转换和 TCSPC 技术的时间分辨荧光测量模块。使用荧光上转换模式时，样品的信号被混合在一个具有门控飞秒脉冲的非线性晶体中，以获得高的时间分辨率，该分辨率受门控脉冲的脉宽限制在 250 fs内。对于荧光衰减时间超过 150 ps 的，仪器可采用 TCSPC 模式（时间相关的单光子计数）模式，测量 200 ps – 2 µs 时间范围内的运动轨迹。HARPIA-TF 模块支持 Becker&Hickl TCSPC 设备和探测器。 将这两种时间分辨荧光技术结合起来，可以测量飞秒到 ms 毫秒级别的的频率分辨荧光衰减曲线。使用高重频的 PHAROS / CARBIDE 激光器，使得单脉冲能量可低至几个 nJ，从而激发样品并且对瞬态吸收的动力学过程进行精准测量。