聚合物样本制备系统 EM TIC 3X
用于 SEM

聚合物样本制备系统 - EM TIC 3X - Leica Microsystems GmbH/徕卡 - 用于 SEM
聚合物样本制备系统 - EM TIC 3X - Leica Microsystems GmbH/徕卡 - 用于 SEM
聚合物样本制备系统 - EM TIC 3X - Leica Microsystems GmbH/徕卡 - 用于 SEM - 图像 - 2
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产品规格型号

应用
聚合物, 用于 SEM

产品介绍

新版 EM TIC 3X 恪守我们的格言:与用户合作,使用户受益”,以注重实用性的方式将性能和灵活性理想融合。 最新的 EM TIC 3X 切割速度翻倍,根据您的应用需求提供五种不同的载物台供您选择,实用性得到进一步提升。

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* 显示价格为参考价,此价格不含税、不含运费、不含关税,也不包含因安装或投入使用所产生的其他额外费用。参考价格可能因国家、原材料价格和汇率的不同而产生变化。