功率测量表 HP-MSM-HB

密度水平辐射

专为高功率激光器设计，增加了高亮度选项：PRIMES HighPower-MicroSpotMonitor-HighBrilliance (HP-MSM-HB) 可以直接在焦平面上测定平均功率高达 10 kW 的 SM 激光器的功率密度分布。 测量多 kW 激光器的焦平面几何形状 具有高光束质量和高平均功率的近红外激光器越来越多地应用于激光材料加工。使用这些激光器可以实现 20 到数百微米范围内的焦点几何形状。任何已知材料都无法长期抵御由此产生的高达 GW/cm² 范围的功率密度。在这种辐射水平下，传统的扫描测量分析技术已不适用。PRIMES 扩展了基于相机的聚焦分析系统 MicroSpotMonitor (MSM)，增加了高亮度选项，专门用于精细聚焦的高功率激光。 HighPower-MSM-HighBrilliance 可直接在加工区内确定 20 微米到毫米范围内的多千瓦激光器聚焦激光束的光束参数，即使在全功率情况下也是如此。 为此，95% 的激光功率通过分光镜传输到测量光学镜并被吸收。剩余的 5% 则在测量光学镜中进一步衰减，并被内部水冷吸收器吸收。功率为几毫瓦的部分光束在 CCD 传感器上放大成像。