平面度测量干涉仪 SPI, PGI Series

磨削零件

SPI和PGI -精密零件视觉扁平检查的干涉仪 Lamtech Lasermesstechnik提供视觉扁平检查的干涉仪结束加工(SPI)以及擦亮了(PGI)零件。 为了评估测试对象，零件在SPI或PGI的玻璃表面被安置。部分和边缘比被提出是扩大在录影显示器。扁平的评估根据干扰带的平直度、平行性和equidistance的解释显示的发生在显示器。 干涉仪是适当安置在接近处理机的生产区域。 节目INTDOK (更)或录影打印机使能零件的扁平的文献。 结束加工的表面视觉扁平检查的视力检查干涉仪SPI – SPI视力检查仪器允许舔的，地面或者优美的表面扁平检查。象TOPOS扁平测量仪器，SPI干涉仪根据光的掠入射的原则也。因此，与SPI干扰带对表面无光泽的测试对象是可看见的。零件不必须在与SPI的考试前被擦亮。 斯皮对一个测量的领域是可利用的75和130mm。 另外，我们提供与改进的敏感性的SPI-xs。敏感性被设定对0.3 µm/fringe，对应于测量敏感性与光学平度和氦气或钠灯。