落下冲击测试仪 C670M

用于薄膜用于包装用于板材

C670M落镖冲击试验仪适用于测量塑料薄膜或片材在一定高度的自由落镖冲击下，50%的样品被破坏时的冲击质量和能量。 产品特点说明1 - 菜单界面，彩色触摸屏操作，方便快捷地设置测试参数。 -提供A、B两种测试模式，自动判断测试状态。 - 落镖采用电磁悬挂原理，可自动释放，有效避免了人为因素造成的系统误差。 -气动夹持样品，手动和脚踏双启动方式，内置观察灯独特设计；操作方便、快捷、准确。 - 专业的计算机软件支持测试结果多单元显示、测试过程图形显示、输出和打印功能，清晰直观地显示结果。 - 微型打印机和标准的RS232接口，使测试仪方便对外连接和系统与计算机之间的数据传输。 测试原理 在测试开始时，选择测试方法作为第一个程序，估计一个初始质量和△m值，然后进行测试。如果第一个样品被破坏，应使用砝码△m来减少下降质量；如果第一个样品没有被破坏，应使用砝码△m来增加下降质量，依次进行试验。简而言之，使用砝码减少或增加下落质量取决于前一个样品是否损坏。测试完20个样品后，计算出受损样品的总数。