厚度测量系统 C640

直接接触用于薄膜箔片

C640测厚仪是一款高精度机械接触法测厚仪，可用于薄膜、薄板、纸张、瓦楞纸板、纺织品、无纺布、固体保温材料等的测厚。可选装自动取样器，是为多点连续测厚而设计的。 专业人员 Labthink兰光C640测厚仪经过创新研发，采用高精度位移传感器，辅以科学的结构和专业的控制技术，使C640在稳定性、重复性注1和准确性上有了很大的提高。 - 仪器符合机械接触法的标准。压脚可自动升降，最大限度地减少人为操作造成的误差。 - 可根据需要设定接触时间和测试速度。可定制多种接触面积和压力，满足各种试验条件的要求。 - 用户可选择手动和自动测试模式。 - 多点校准可以提高整个测试范围的线性度，保证测量结果的准确性。 - 标准量块可用于快速校准 高效率 该仪器具有高效率、自动化的结构设计，最大限度地减少了测量过程中的人为操作，智能化的控制和数据处理功能，使测试操作和数据处理简单可靠。智能化的控制和数据处理功能，使测试操作和数据处理简单可靠。