光学探头 EOP series

测量辐照度用于分光计

Instrument Systems提供一系列光学探头，用于测量辐照度和照度，也用于将光耦合到光谱仪中。这些探头在整个光照度、光谱范围和余弦校正方面有所不同。Instrument Systems提供的所有型号的光学探头都包含一个入射光的扩散器。用于将光耦合到光谱仪中的光纤入口位于该扩散器的正后方。 特点 - 柔性光纤连接器 - 多个探头具有不同的余弦校正和光通量。 - 特殊探头，指定视场角为5.7度。