USB分光辐射计 DTS 140 NVIS

测量用于光谱分析

Instrument Systems公司在CAS 140CT/D阵列分光辐射计和TOP 200望远镜光学探头在世界范围内取得成功的基础上，开发了DTS 140D NVIS。对于NVIS测量来说，正确测量可见光和近红外光谱范围之间极高的强度差异至关重要（分别为380至780nm和650至930nm--后者是NVG夜视镜的灵敏度范围）。CAS 140系列的具体修改包括进一步抑制杂散光和自动调整测量灵敏度以应对不同的信号强度。DTS 140D NVIS是需要长期可靠性和简单操作的生产和质量控制应用的理想选择。 由于阵列光谱仪技术的坚固性，DTS140 NVIS特别适用于需要长期可靠性和简单操作的制造和质量控制应用。通过使用SpecWin Pro软件中的Pass/Fail测试功能，可以实现自动测量。 特点 - 超过MIL-L-85762A / MIL-STD-3009的要求。 - 改进后的Pritchard光学系统保证了测量点的理想定位。 - 集成对中摄像头，视野宽广 - 可通过软件选择光圈和光密度滤光片。 - 新的SpecWin Pro软件为分析和记录结果提供了方便。 规格 DTS140-235 光谱范围：380-1040纳米 波长精度：+/- 0.5 nm。 杂散光(LED用) : 5*10E-5 电脑连接：USB 2.0，可选的PCI接口卡。