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晶圆边缘测量系统
WATOM T
光学
紧凑型
轮廓仪
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产品规格型号
所用技术
光学
所测量的产品
晶圆边缘
其他特性
紧凑型, 轮廓仪
产品介绍
单晶圆边缘轮廓仪 WATOM T 占地面积小,精度稳定 WATOM T 结构紧凑、价格低廉,适用于无自动化要求的应用,具有与其他 WATOM 系统相同的质量、工艺可靠性和测量精度。 WATOM T 可接受两种尺寸的晶片,以便快速测量样品。 该工具配备触摸屏,操作员、专家和维护人员都能轻松使用。
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此为机器翻译文本。 (查看英文原文)
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Wafer Topography Measurement
16 页
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