湿法工艺晶圆温度(15° 至 140°C)测量系统
WetTemp 晶圆温度测量系统提供 300mm 和 200mm 两种配置,支持湿法清洁和其他湿法工艺的监测。 WetTemp Series 晶圆与大多数单晶圆湿法清洁工艺系统兼容,以帮助工程师验证湿法清洁设备、优化湿法清洁工艺和改进湿法清洁系统性能。
主要应用
工艺开发、工艺验证、工艺设备监测、工艺设备验证、工艺设备匹配
湿法蚀刻,湿法清洁 | 15-140°C
相关产品
WetTemp-HR: 使用 65 个均匀分布在 9 个同心环中的集成温度传感器对温度进行监测,改进了晶圆表面量测的覆盖范围,以获取整个晶圆的大量的温度数据。 与单晶圆湿法工艺兼容,晶圆厚度为 1.2mm 。
WetTemp-LP: 使用 65 个分布在 5 个同心环中的集成温度传感器对温度进行监测,在离圆心147 毫米区域内具有更高的传感器密度。 与单晶圆湿法工艺兼容,晶圆厚度为 0.775 毫米。
WetTemp: 使用 65 个分布在 5 个同心环中的集成温度传感器对温度进行监测,在离圆心147 毫米区域内具有更高的传感器密度。 与单晶圆湿法工艺兼容,晶圆厚度为 1.2mm 。