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光学检查机
29xx
带图案晶圆
用于电子工业
高解析度
光学检查机
C205
带图案晶圆
用于电子工业
裂纹
光学检查机
Puma™ series
带图案晶圆
用于电子工业
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光学检查机
eDR7xxx™ series
晶圆
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Metrology
光学检查机
Archer™ series
带图案晶圆
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Axion® T2000
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临界尺寸测量系统
SpectraShape™ series
维度
光学
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厚度测量系统
SpectraFilm™
光谱分析
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高精度
厚度测量系统
Aleris® series
光谱分析
用于薄膜
厚度测量系统
PWG™
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平面度
3D
光学测量系统
Therma-Probe® 680XP
In Situ Process Management
温度测量系统
SensArray®
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刀具
温度测量系统
EtchTemp series
晶圆用
温度测量系统
HighTemp-400
晶圆用
温度测量系统
WetTemp series
晶圆用
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晶圆用
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温度监控系统
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PVD镀膜机
Sigma®
溅射
薄膜
用于包装
PECVD镀膜机
Delta™
用于包装
Etch
等离子晶圆蚀刻机
Omega®
晶圆蚀刻机
Primaxx® Monarch 3
Reticle Manufacturing
表面缺陷检测系统
Teron™ 6xx series
用于生产
光学检测系统
Teron™ SL6xx series
自动
表面缺陷
晶圆
光学检测系统
FlashScan®
自动
缺陷检测
用于电子行业
光学测量系统
LMS IPRO series
晶圆用
用于集成电路
用于控制
温度测量系统
MaskTemp™ 2
Packaging Manufacturing
3D检测系统
Kronos™ 1190
IA
自动
用于包装业
光学检测系统
ICOS™ T3/T7
3D
2D
IA
光学检测系统
ICOS™ T890
3D
2D
自动
Hard Disk Drive Manufacturing
光学检查机
Candela® 8420
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裂纹
自动化
光学检查机
Candela® 7100 series
表面
HDD硬盘
用于电子工业
光学检查机
Candela® 6300 series
表面
HDD硬盘
用于电子工业
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光学轮廓测量仪
Alpha-Step® D-600
3D
探针式
用于粗糙度测量
3D轮廓测量仪
Tencor™ P-7
探针式
用于粗糙度测量
工业
光学轮廓测量仪
Tencor™ P-17
3D
探针式
用于粗糙度测量
光学轮廓测量仪
Alpha-Step D-500
3D
探针式
用于粗糙度测量
3D轮廓测量仪
Tencor™ P-170
探针式
用于粗糙度测量
工业
3D轮廓测量仪
HRP®-260
探针式
用于粗糙度测量
用于平面度测量
光学轮廓测量仪
Zeta™-20
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白光干涉
用于半导体
光学轮廓测量仪
Zeta™-388
3D
白光干涉
用于粗糙度测量
Nanoindenters for Nanoindentation Hardness Testing
硬度试验压头
iMicro
硬度试验压头
Nano Indenter® G200
硬度试验压头
iNano®
硬度试验压头
NanoFlip
硬度试验机
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