U4164A 逻辑分析仪拥有高数据速率状态模式(高达 4 Gb/s)、深迹线时序模式(高达 10 GHz)以及深存储器(高达 400 Mb),能够验证和调试数据速率超过 3.5 Gb/s 的 DDR4 或 LPDDR4 器件。
Keysight U4164A 逻辑分析仪系统将可靠的数据采集与强大的分析和验证工具相结合,帮助您充满信心地快速验证和调试高速数字设计,这些设计的运行速度可以高达 4 Gb/s。 U4164A 逻辑分析仪模块提供以下独特功能,帮助您执行测量并获得其他逻辑分析仪无法获得的洞察力
U4164A 逻辑分析仪模块拥有两种工作模式:四倍采样状态模式和 10 GHz 1/4 通道时序模式。 使用四倍采样状态模式,可以从每路输入的单一探测点,在两个独立调节阈值上对 4 个不同位置进行采样。
四倍采样状态模式意味着探测高数据速率信号(例如 DDR4、DDR5、LPDDR4 和 LPDDR5)所需的空间更少,这些信号需要不同的采样位置来读取和写入数据,并为大于 2.5 Gb/秒的数据速率分离上升沿/下降沿样本。 四分之一通道(10 GHz)定时模式可以为每个输入提供高达 1.6 Gb 的样本。 除了新的工作模式外,U4164A 逻辑分析仪模块还拥有多项新特性,帮助高速数字和 DDR/LPDDR 存储器设计工程师加快系统启动和调试速度。 U4164A的特性包括时序模式偏移校正控制、双采样状态模式双阈值、时钟滞后控制(该特性可以调整状态模式的噪声灵敏度)以及业界出色的存储器深度选件(400 Mb 全通道,800 Mb 半通道,1.6 Gb 1/4 通道)。
为了从 U4164A 迹线捕获中获得更深的洞察力,B4661A 存储器分析软件提供了先进工具,利于加速 DDR/2/3/4/5 和 LPDDR/1/2/3/4/5 测量的设置和配置;还提供各种已获许可的选件,用于 DDR/2/3/4/5、LPDDR/1/2/3/4/5 和 ONFi(开放式 NANAD 闪存接口)存储器分析和一致性验证。
• 状态速度模式选件的速率高达 4 Gb/s
• 使用四倍采样状态模式,可以从单个探测点的两个不同阈值进行四个采样
• 状态模式的时钟滞后设置
• 高达 10 GHz 的全存储器深度时序模式
• 高达 400 Mb 的内存深度选件(400 Mb 全通道时序、800 Mb ½ 通道时序、1.6 Gb ¼ 通道时序)
• 时序模式的偏移校正接口
• 眼图扫描技术,扫描增量高达 5 ps x 5 mV
• 12.5 GHz,256K 深度定时缩放