双色高温计 CellaCrystal PX 44
数码显示带激光指针IO-Link

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产品规格型号

所用技术

双色

显示

数码显示

目标

带激光指针

通信协议

IO-Link

保护程度

IP65

形状

固定

其他特性

精准

温度

1,000 °C
(1,832 °F)

最多: 3,000 °C
(5,432 °F)

最少: 750 °C
(1,382 °F)

精确度

0.35 %

分辨率

0.2 °C
(32.36 °F)

频谱响应

最多: 1.1 µm

最少: 1 µm

响应速度

10 ms

最多: 10 ms

最少: 10 ms

产品介绍

CellaCrystal PX 44是为硅和碳化硅晶体生产中的光学温度测量而开发的。校准特别适合于生长过程。由于混合信号评估在整个测量范围内具有< 0.1 K的恒定高分辨率，以及恒定光传感器技术带来的非常高的长期稳定性，该设备满足了对必要的测量精度的高要求。专题报道: 测量范围750至3000 °C - PX 44 AF 4用于生产硅晶体的特殊校准 - PX 44 AF 7 用于生产碳化硅的特殊校准 - 用于高计量分辨率的混合信号评估 - 由于自热最小，长期稳定性高 - 可调焦的光学器件，可精确调整测量距离 - 作为标准。IO-Link接口和模拟输出