半导体测试系统 S530 series

高电压中电压低电压

当今的模拟和功率半导体技术（包括 GaN 和 SiC）要求进行参数测试，以便最大限度提高测量性能、支持广泛的产品组合以及最大限度降低测试成本。40 多年来，吉时利已经在关键应用中解决了这些问题以及其他重要挑战，这些应用包括工艺整合、工艺控制监控、生产芯片分类（例如，晶片验收或已知的良好芯片测试），以及可靠性。 带有 KTE 7 软件的吉时利 S530 系列参数测试系统提供高速、完全灵活的配置，能够随着新应用的出现和需求变化而不断发展。S530 可进行高达 200 V 的测试，而 S530-HV 可以在任何引脚上进行高达 1100 V 的测试，与竞争解决方案相比，吞吐量提高了 50%。KTE 7 的新增功能是促成直接对接探测器和原有探头卡重新使用的可选系统测试头，支持汽车标准 IATF-16949 要求的系统级 ISO-17025 引脚校准，以及从原有的 S600 和 S400 系统进行迁移的最简单、最顺畅的路径，具有完整的数据关联性并提高了速度。 540 参数测试系统是一个全自动化的 48 引脚参数测试系统，适用于高达 3kV 的功率半导体器件和结构的晶片级测试。完全集成式 S540 已针对包括碳化硅 (SiC) 和氮化镓 (GaN) 在内的最新复合功率半导体材料进行优化，可以在单次测试触摸中执行所有高电压、低电压和电容测试。