EDX显微镜 PSE
用于检查材料相关

EDX显微镜
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产品规格型号

分类
EDX
专业应用类型
用于检查材料
其他特性
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产品介绍

扫描电子显微镜和能谱仪: JOMESA PSE •从数据库中读取颗粒信息 •选中颗粒的快速SEM-EDX分析 •可选分析方式:全扫描或部分光学颗粒扫描 •将结果存储到数据库 SEM-EDX与LIBS: 带有LIBS选项的光学显微镜只能分析光学方法识别的颗粒(可见光下能见颗粒)。 SEM分析能够增加光学数据中看不到的颗粒信息(可见光下未探测到的颗粒)。 SEM图像看起来与光学图像大不相同,可以显示很多信息
* 显示价格为参考价,此价格不含税、不含运费、不含关税,也不包含因安装或投入使用所产生的其他额外费用。参考价格可能因国家、原材料价格和汇率的不同而产生变化。