立式测量射灯 CST-50
特殊应用

立式测量射灯 - CST-50  - Jinan Liangong Testing Technology Co., Ltd - 特殊应用
立式测量射灯 - CST-50  - Jinan Liangong Testing Technology Co., Ltd - 特殊应用
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产品规格型号

技术参数
立式, 特殊应用

产品介绍

CST-50冲击式样缺口投影仪 CST-50型冲击试样缺口投影仪是我公司根据目前国内广大用户的实际需求和GB/T 229-2007《金属材料 夏比摆锤冲击试验方法》中对冲击试样缺口的要求而设计、开发的一种专用于检查夏比V型和U型缺口精度的设备。 用途与特点: CST-50型冲击试样缺口投影仪是根据目前国内广大用户的实际需求和GB/T 229-2007《金属材料 夏比摆锤冲击试验方法》中对冲击试样缺口的要求而设计、开发的一种专用于检查夏比V型和U型缺口精度的设备。冲击试样缺口轮廓放大投射到投影屏上,与投影屏上冲击试样V型和U型缺口标准样板图比对,以确定被检测的冲击试样缺口加工是否合格,也可满足美标、欧标ASTM E23-02a、EN10045、ISO148、ISO83等国际相关标准。

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* 显示价格为参考价,此价格不含税、不含运费、不含关税,也不包含因安装或投入使用所产生的其他额外费用。参考价格可能因国家、原材料价格和汇率的不同而产生变化。