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光学试验片 MOT-F Series

光学试验片
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产品规格型号

技术参数
光学

产品介绍

阻止上面的▪宽频振动消灭表面同步的振动 ▪蜂窝状中心结构 与被密封的杯子的▪干净的上面 与更低的自已重量和高坚硬的▪高密 没有面畸变的▪持久产品使用期限由于剩余应力 ▪容易设施和方便操作,不用坚持维护 应用: ▪Scanning的挖洞显微学(AFM/LFM/STM) ▪Interferometry ▪Electron显微学

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* 显示价格为参考价,此价格不含税、不含运费、不含关税,也不包含因安装或投入使用所产生的其他额外费用。参考价格可能因国家、原材料价格和汇率的不同而产生变化。