电子显微镜 JEM-ARM300F2

用于分析落地式冷场发射

JEM-ARM300F2是GRAND ARMTM的第二代产品，该设备在性能上有了进一步的提高，无论采用怎样的加速电压都能获得超高空间分辨率图像和高灵敏度的元素分析。 产品特点 "GRAND ARM™2 更新了。 实现在宽范围加速电压内，超高空间分辨率下高灵敏度分析。 主要特点 1. FHP2 新型物镜极靴 保证超高空间分辨率观察的同时，优化FHP物镜极靴的形状以满足大尺寸双SDDs（158mm2）的需求，x射线有效检测效率提高了两倍以上，实现亚埃级分辨率的EDS元素面分析。 2. 新型屏蔽体 TEM柱采用箱式外壳，可减少温度、气流、噪声等环境变化的影响，从而提高显微镜的稳定性。 3. ETA 校正器 & JEOL COSMO™ 快速准确的像差校正 4. 稳定性提高 CFEG采用小型SIP泵，快速提高真空度，提高了发射体附近的真空、发射电流、探针电流的稳定性。其他改进也提高了显微镜的稳定性和对各种干扰的抵抗力。