FIB/SEM显微镜 CRYO-FIB-SEM

工业荧光

该 CRYO-FIB-SEM 系统集成了一个液氮冷却台和一个用于冷冻标本的低温标本传送机构，使制备生物聚合物等 TEM 标本成为可能。 试样传送机构具有内置溅射涂层功能。因此，仅这套 CRYO-FIB-SEM 系统就能进行一系列处理，从冷冻标本制作 TEM 标本，包括导电涂层、保护膜成型和 FIB 处理。 此外，通过使用 JEOL 的 CRYO ARM™ 盒，在 TEM 试样制备后将试样直接转移到 CRYO ARM™ 变得更加容易。 特点 - 使用 CRYO ARM™ 盒进行低温标本转移 将试样网安装到盒上后，无需再使用镊子处理试样网，因此可进行高通量试样转移。 - 高稳定性冷却台 导热冷却台可减少冷却过程中产生的台漂移和振动，实现稳定的 TEM 试样制备。 - JEOL 独特的防污染装置 利用新开发的防污染装置，可减少试样室中的冰污染。即使在长时间制备大量试样时，该装置也能最大程度地抑制冰污染。 Cryo CLEM 工作流程 使用 CRYO ARM™ 血盒的低温-CLEM 工作流程可通过 Linkam Scientific Instruments* 生产的低温平台和 Nikon Solutions* 生产的荧光显微镜来构建。每台仪器的平台坐标都可以连接起来，因此在仪器之间传输标本时，可以始终确定标本的方向和位置。