除了粗糙度测量外,Waveline 3D 分析软件还让您可以捕获工件的特定轮廓和表面数据。
业纳的 WAVELINE 测量系统可以用于粗糙度或轮廓测量。我们还提供将这两个功能相结合的系统。可以使用 3D 分析软件扩展 Waveline T8000、surfscan 和 nanoscan 业纳测量系统,以便进行地形测量。Waveline MAP 软件让您可以用图形的形式呈现工件的表面纹理,以便进行评估。
HOMMEL MAP 采用直观设计,且易于操作。例如,可在校准、滤波和拆模方面进行预处理。一旦评估步骤发生变化,会执行自动重新计算。系统提供了广泛的测量和科学滤波选项。
3D 分析软件提供三种版本:基本、专家和高级。专家和高级版符合 3D 参数的 ISO/TS 25178 标准。
除了软件外,地形测量还需要 Y 定位台。这有助于进行必要的工件移动。这些定位台可以容纳重量达 30千克的组件,并以约 5微米的导向精度工作。
优点
• 灵活:必要情况下可在测量站用于测量粗糙度
• 简单:直观,软件易于使用
• 快速:在评估步骤发生变化后自动重新计算
• 模块化:以彼此为基础的三个版本
应用
• 汽车工业:工件表面上的 3D 参数测量
• 研发:旨在优化表面功能的摩檫学研究