研磨测试座 GD18-TO252-x-755
Kelvin用于晶体管轮廓

研磨测试座 - GD18-TO252-x-755 - JC CHERRY INC. - Kelvin / 用于晶体管轮廓
研磨测试座 - GD18-TO252-x-755 - JC CHERRY INC. - Kelvin / 用于晶体管轮廓
添加到我的收藏夹
添加到产品对比表
 

产品规格型号

技术参数
研磨, Kelvin, 用于晶体管轮廓

产品介绍

TO 封装测试插座 用于 TO-252/D-PAK 尺寸 18x32.9mm / 0.71x1.30" 蛤壳式 - 预烧测试 - 开尔文触点(可选) - 额定电流:10A - 工作温度 : [可接受器件] IRF40R207(英飞凌) TK560P65Y(东芝) MJD47(安森美半导体) 2SD1918(ROHM) ** 包括端子温升。 *** 也可支持其他端子模式。 通孔 GK、DK、SK 用于开尔文接点。 如果不需要开尔文接点,则不需要这些孔。 可支持其他设备尺寸。如需更多信息,请联系我们。 虽然列出了器件,但由于器件尺寸公差较大,可能无法兼容。 因此,请提前发送设备样品,我们将检查兼容性。

---

PDF产品目录

* 显示价格为参考价,此价格不含税、不含运费、不含关税,也不包含因安装或投入使用所产生的其他额外费用。参考价格可能因国家、原材料价格和汇率的不同而产生变化。