光谱分析椭偏仪 IR-VASE

光谱分析椭偏仪 - IR-VASE - J.A. Woollam Co.
光谱分析椭偏仪 - IR-VASE - J.A. Woollam Co.
光谱分析椭偏仪 - IR-VASE - J.A. Woollam Co. - 图像 - 2
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产品规格型号

技术参数
光谱分析

产品介绍

IR-VASE® 是第一个也是唯一的光谱椭圆仪,将傅立叶变换红外光谱的化学敏感性与光谱椭圆仪的薄膜敏感性相结合。IR-VASE的光谱范围很广,从1.7到30微米(333到5900文数)。它被用来表征研究和工业中的薄膜和散装材料。这项迅速发展的技术在光学涂层、半导体、生物和化学工业以及研究实验室中都有应用。 广泛的光谱范围 涵盖近红外到远红外。 1.7至30微米 (333到5900文数) 分辨率从1厘米-1到64厘米-1 对超薄薄膜的高敏感度 光谱椭圆仪数据包含反射或透射光的 "相位 "和 "振幅 "信息。与傅立叶变换红外反射/吸收率相比,红外椭偏仪的相位信息提供了对超薄薄膜更高的灵敏度,同时保留了对化学成分的灵敏度。 非破坏性表征 IR-VASE对许多不同的材料特性提供非接触、非破坏性的测量。测量不需要真空,可用于研究生物和化学应用中常见的液体/固体界面。 不需要基线或参考样品 椭圆仪是一种自我参照的技术,不需要参考样品来保持准确性。小于光束直径的样品可以被测量,因为整个光束不需要被收集。 高度精确的测量 专利的校准和数据采集程序,在仪器的整个范围内提供Ψ和Δ的精确测量。

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* 显示价格为参考价,此价格不含税、不含运费、不含关税,也不包含因安装或投入使用所产生的其他额外费用。参考价格可能因国家、原材料价格和汇率的不同而产生变化。