光谱分析椭偏仪 alpha-SE

对于薄膜厚度和折射率的常规测量，这种椭圆仪允许你安装一个样品，选择与你的薄膜相匹配的型号，然后按 "测量"。你在几秒钟内就能得到结果。 易于使用 按钮式操作与先进的软件相辅相成，为您解决工作中的问题。 强大的功能 经过验证的光谱椭圆仪技术为您提供厚度和指数，其确定性远远高于其他技术。 灵活 适用于您的材料--电介质、半导体、有机物和更多。 价格合理 椭偏仪适用于简单的样品系统。 快速 在几秒钟内同时收集数百个波长的数据，立即得到结果。