高精度分光辐射计 CAS 140D
UV/VIS/NIRCCD高端

高精度分光辐射计 - CAS 140D - Instrument Systems - UV/VIS/NIR / CCD / 高端
高精度分光辐射计 - CAS 140D - Instrument Systems - UV/VIS/NIR / CCD / 高端
高精度分光辐射计 - CAS 140D - Instrument Systems - UV/VIS/NIR / CCD / 高端 - 图像 - 2
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产品规格型号

类型
UV/VIS/NIR
其他特性
CCD, 高端, 高精度, 台式, 车尔尼-特纳, 高速
应用
测量, 用于 LED 照明, 用于照明应用, 用于研究开发, 用于显示屏, 用于激光应用, 用于汽车工业, 用于照明工业
波长

最多: 1,100 nm

最少: 200 nm

产品介绍

Instrument Systems 的最新高端 CAS 140D 阵列光谱仪被视为弱光源和高辐射度的高精度光谱光测量技术的基准。 该产品基于久经考验的交叉 Czerny-Turner 光谱仪并配备具有冷却性能的 CCD 探测器,具有以下特色 最高的测量准确度和杂散光抑制 再现性和稳定性 极短的积分时间 CAS 140D 的应用范围从国家校准实验室的标准仪器到生产中的 24/7-Dauermessung。Instrument Systems 的一个特定质量属性是可追溯至 PTB 和 NIST 的校准,我们所有的光谱仪都配备该校准功能。 与广泛的配件搭配组合,可以将光谱仪升级为一体化系统,适用于各种光谱辐射和光度测量任务。 在校准过程中使用杂散光校正矩阵运算(可选),可进一步降低 CAS 140D 原本就极其出色的杂散光值。因此,该测量仪器也非常适合 UV-LED 的精准测量和 LED 光源危害等级(光生物安全)的测定。 作为标准仪器在全球使用 200 – 1100nm 都有相应型号 具有冷却性能的“薄型背照式”探测器,用于最小暗电流 具有最强杂散光抑制的光谱仪 4 ms 至 65 s 的积分时间 配件自动识别 综合性 SpecWin Pro 光谱软件 高精度测量关联色温 (CCT) 和显色指数 (CRI) 标准色度坐标上仅 ±0.0015 的可追溯测量不确定性 额外杂散光校正(可选) 面向 LED、照明设备或显示屏的一体化系统 CAS 140D 是 Instrument Systems 系统解决方案中的重要测量仪器。辅以功能强大的软件包(SpecWinPro、LumiSuite)、积分球、测角仪、图像色度测量仪和广泛配件,我们针对任何测量挑战提供最合适的一体化系统,按照您行业的当前标准量身定制。 无论是需要对个别 LED、UV-LED、VCSEL、SSL 产品执行辐射或光度测量,还是需要评估基于 LED、OLED 或 µLED 的显示屏 – CAS 140D 适用于所有想得到的光度应用以及最新实验室和生产挑战。
* 显示价格为参考价,此价格不含税、不含运费、不含关税,也不包含因安装或投入使用所产生的其他额外费用。参考价格可能因国家、原材料价格和汇率的不同而产生变化。