MA 32xx 系列测试治具适用于对数量较大且型号较多的电子组件进行触探。该测试治具设计作为替换套件系统,可与现有测试系统连接,并通过专门针对被测电子组件而扩展的替换套件运行。其具有以下产品特性:
•坚固耐用,且驱动器针对环境恶劣的测试场地进行了优化
•替换套件系统
•高达 2,000 N 的高接触力
•高达 22 mm 的平行行程
•省力的终端位置阻尼开启机构
•可进行模块化配置的内部接口
•无需工具即可快速设置替换套件,无需后续调校即可使用
•压紧装置和探针支承单元可用螺丝固定为一个整体,使针床受到保护(以便储存/运输)
•使用寿命:2,000,000 次负载循环(在实验室条件下)