MA 21xx 系列测试治具适用于对数量中等而型号较多的电子组件进行触探。该测试治具设计作为替换套件系统,可与现有测试系统连接,并通过专门针对被测电子组件而扩展的替换套件运行。其具有以下产品特性:
•替换套件系统
•高达 2,000 N 的高接触力
•省力的终端位置阻尼开启机构
•可进行模块化配置的内部接口
•无需工具即可快速设置替换套件,无需后续调校即可使用
•带或不带测试系统接口
•压紧装置和探针支承单元可用螺丝固定为一个整体,使针床受到保护(以便储存/运输)
•使用寿命:500,000 次负载循环(在实验室条件下