MA xxx 系列测试治具适用于对数量较小而型号多样的电子组件进行触探或闪存编程。该测试治具设计作为替换套件系统,可与现有测试系统连接,并通过专门针对被测电子组件而扩展的替换套件运行。
•替换套件系统
•侧面开放式压紧装置
•可堆垛、可完全取下的下部开放式外壳
•可任意定义的内部接口
•可提供标准型和 ESD 型替换套件,并可在无需任何工具的情况下快速安装,无需后续调校即可使用
•压紧装置和探针支承单元可用螺丝固定为一个整体,使针床受到保护(以便储存/运输)
•使用寿命:300,000 次负载循环(在实验室条件下)