光谱分析椭偏仪 UVISEL Plus / UVISEL Plus In-Situ

新的UVISEL加号：薄膜测量的参考ELLIPSOMETER 新的UVISEL加号分光镜ellipsometer包括新收获技术被设计快速地和更加准确地测量薄膜样品。 凭一台新的电子数据处理和高速单色仪，新的FastAcq技术使从190的一次样品测量到2100nm在3分钟内完成，在高分辨率。连续地调整沿测量范围的光谱分辨率的可能性使能扫描更加聪明的样品和快速地。 设计为薄膜测量的改进的灵活性，UVISEL加号提供被仿造的样品的microspots下来到50µm，从40的易变的角度到90°，一个自动水平的映射的阶段和各种各样的辅助部件，使它可升级遇见所有您的应用和困难。 容易的可提高性是遇见您的未来持续的过分要求的应用的UVISEL加号的标记。驾驶由最先进的DeltaPsi2软件平台，以及以直觉的工作流为特色的自动软的接口加速搜集数据和分析，UVISEL加号允许用户从新手到专家进行薄膜测量与高精确度和敏感性。 UVISEL加号被认为最后材料学的参考ellipsometer。