测量软件 HitachiMap 3D

可视化工业实验室

使用日立最新的高速 4 段背散射电子探测器，无需倾斜样品或手动收集连续图像，即可生成三维模型。 - 可在灵活的布局显示屏上直接编辑。 - 支持各种测量，如高度、面积和体积，以及符合 ISO 标准的□表面粗糙度。 - 自动、可追溯的分析工作流程，包括报告创建。 Hitachi map 3D 可生成三维图像，无需倾斜样品/平台或移动图像。 Hitachi map 3D 利用高速、分段式背散射电子探测器 (BSED) 同时捕捉所有四个方向的图像。 从样品表面或横截面剖面自动收集表面粗糙度和结构高度数据，或在两点之间进行各种测量。 显示三维地图上任意点的横截面剖面图 可从三维图像的垂直点、水平点和对角线上自由选择测量位置。 无论何时改变测量位置，测量结果都会实时响应。