扫描电子场发射显微镜 SU7000
用于分析BF-STEMDF-STEM

扫描电子场发射显微镜 - SU7000 - Hitachi High-Tech Europe GmbH/日立 - 用于分析 / BF-STEM / DF-STEM
扫描电子场发射显微镜 - SU7000 - Hitachi High-Tech Europe GmbH/日立 - 用于分析 / BF-STEM / DF-STEM
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产品规格型号

分类
扫描电子场发射
专业应用类型
用于分析
观测技术
BF-STEM, DF-STEM, 原位
配置
落地式
电子源
肖特基场发射
探测器类型
二次电子, 背向散射电子
其他特性
纳米技术, 用于同时采集, 超高解析度
倍率

最多: 2,000,000 unit

最少: 20 unit

空间分辨率

0.8 nm, 0.9 nm

产品介绍

SU7000不仅可以在低加速电压下获得高画质图像,而且还可以同时接收多种信号。此外,它还具备大视野观察、In-Situ观察等FE-SEM的众多优异性能。 SU7000是一台实现了获取大量信息的新型扫描电镜,可以满足客户的多种观察需求。 接下来请欣赏SU7000带来的多彩世界 核心理念 1.采用优异的成像技术 SU7000可以迅速获取从大视野全貌图到表面微细结构等多种检测信号。全新设计的电子光学系统和检测系统,使得装置可以同时接收二次电子和背散射电子等信号,用户可以在短时间内获得更全面的样品信息。 2.采用多通道成像技术 随着用户对成像需求的不断增长,SU7000特新增了几种探测器,还引进了相应的成像功能。SU7000最多可同时显示和保存6通道信号。实现了获得样品信息的最大化。 3.支持不同形状样品、多种观察方法 • 大型样品观察 • 低真空观察 • 超低温观察 • 实时观察 等所需的样品仓和真空系统都十分完备,观察方法也是一应俱全。 4.支持微纳解析 采用肖特基发射电子枪,最大束流可达到200 nA,适用于各种微纳解析。样品仓形状和接口设置支持EDX分析、EBSD、阴极荧光分析等,接口设备可通过选配附件满足各种特殊需求。 成像能力 追求信息最大化的检测系统 随着用户对样品数据的需求更加多元化,对检测系统在短时间内捕捉更多的信息提出了更高的要求。SU7000的检测系统可以在不改变WD等条件的前提下,更高效地获取形貌、成分、晶体学以及发光等信息。真正实现了更快速、更全面的信息收集。
* 显示价格为参考价,此价格不含税、不含运费、不含关税,也不包含因安装或投入使用所产生的其他额外费用。参考价格可能因国家、原材料价格和汇率的不同而产生变化。