电子扫描显微镜 FlexSEM 1000 II
用于分析用于检查材料用于检查非金属夹杂物质

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产品规格型号

分类
电子扫描
专业应用类型
用于分析, 用于检查材料, 用于检查非金属夹杂物质, 表面糙度测定, 冶金, 质量控制, 用于材料研究, 多功能
配置
台式, 紧凑型, 落地式
电子源
热电
探测器类型
二次电子, 背向散射电子
其他特性
扫描式压力可变, 高解析度, 自动化, 机动, 简单安装, 高精度, 用于平面样本, 用于抛光样本, 用于空间成像, 纳米技术, 用于石棉识别, 高对比度, 高放大率
倍率

最多: 800,000 unit

最少: 6 unit

空间分辨率

4 nm, 5 nm, 15 nm

产品介绍

“先进的SEM更为紧凑” 宽幅仅为45 cm的紧凑型的设计,仍具备4.0 nm的图像分辨率。 全新开发的用户界面和电子光学系统让您深切体验其高性能。 FlexSEM 1000 II,凭借全新设计的电子光学系统和高灵敏度检测器,可在加速电压20 kV下实现4.0 nm的分辨率。全新开发的用户界面,具有亮度和对焦自动调节功能,可以在短时间内进行各种观察。此外,还搭载了全新的导航功能“SEM MAP”,这个功能可弥补电子显微镜上难以找准视野的缺点,实现最直观的视野移动。 • 尽管是可放置在桌面上的小巧紧凑型*1电子显微镜,仍可实现4.0 nm的分辨率 • 凭借独特的高灵敏度二次电子、背散射电子检测器、低真空检测器(UVD*2),可在低加速/低真空下观察时实现最高的画质 • 全新的用户界面,无论用户的熟练程度如何,都可实现高画质和高处理能力 • 全新的定位功能“SEM MAP”,支持观察时的视野搜索和样品定位 小型高性能色谱柱 尺寸虽小,却具备同类产品中最高的分辨率。 高画质 配备可优化放射电流的功能,以便在较低的加速电压下也能获得足够的亮度,而获得噪点小且清晰的图像。 可用高画质和快速观察 搭载GUI和自动调节功能,让初学者也能得心应手。只要按一下自动对焦(AFC)、自动亮度调节(ABCC)按钮,就可以获得最佳的图像。(自动调节:与以往相比,缩短时间约13秒*3)当然,也可以通过触屏进行操作。 全新定位系统“SEM MAP” “SEM MAP”功能可有效实现观察时的视野搜索和样品定位。根据内置摄像头所拍摄的图像,定位样品,一键点击即可移动到观察部位。 在SEM MAP上导入的图像会自动进行粘贴,并以分布图的形式显示。 可放置在桌面上的紧凑型电子显微镜 宽幅仅为45厘米,紧凑型设计,最大程度地减小占用空间。机体仅支持AC100 V 3P电源插座。此外,机体和电源盒可以分离,从而大幅度提升诸如桌面设置等的布局灵活性。

PDF产品目录

* 显示价格为参考价,此价格不含税、不含运费、不含关税,也不包含因安装或投入使用所产生的其他额外费用。参考价格可能因国家、原材料价格和汇率的不同而产生变化。