EDX光谱仪 Quantax75用于分析工业研发
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产品规格型号
- 类型
- EDX
- 应用领域
- 用于分析, 工业, 研发, 科研应用, 用于涂层, 用于分析金属, 质量控制, 用于制药业, 化学检测, 电池, 用于冶金产业, 医疗用途, 用于金属分拣, 用于汽车工业, 用于厚度测量, 用于研究开发, 用于金属加工, 用于环境工业, 用于电子元件, 用于矿产工业, 用于显微光谱学, 用于矿场, 用于X射线微分析, 用于电子元件, 化工, 环境分析
- 配置
- 紧凑型
- 探测器类型
- SDD
- 其他特性
- 高速
产品介绍
操作简单且直观
*和TM4000Plus搭配应用实例
*探测器内置型
(制造商: 德国Bruker nano GmbH)
特点
通过简单操作即可迅速获取彩色X射线面分布
移动到指定位置，可实时确认其谱图
双屏显示
仅需选择图像和模板，即可在生成Word®、Excel®、面分布信息的同时，实时显示点分析、线分析结果等多种分析。
超高的性能（hyper map）成就了一次测试即可获取点分析、线分析、面分布结果
点分析
可根据点位置移动实时追踪谱图，轻松确认目标元素。
实时在线谱峰剥离面分布
分离出常规面分布图像中的谱峰重叠元素，并显示正确结果。
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Electron Microscopes (SEM/TEM/STEM)
* 显示价格为参考价，此价格不含税、不含运费、不含关税，也不包含因安装或投入使用所产生的其他额外费用。参考价格可能因国家、原材料价格和汇率的不同而产生变化。