- 计量设备、实验室仪器
- 实验室设备
- 电子显微镜
- Hitachi High-Tech Europe GmbH/日立
扫描电子场发射显微镜 SU5000用于分析3D原位
添加到我的收藏夹
添加到产品对比表
产品规格型号
- 分类
- 扫描电子场发射
- 专业应用类型
- 用于分析
- 观测技术
- BF-STEM, 3D, DF-STEM, 原位
- 配置
- 落地式
- 电子源
- 肖特基场发射
- 探测器类型
- 二次电子, 背向散射电子
- 选项和配件
- 电脑辅助
- 其他特性
- 纳米技术, 高解析度, 自动化, 扫描式压力可变, 用于平面样本, 用于抛光样本, 用于空间成像, 用于石棉识别, 用于同时采集, 地球科学用, 高放大率
- 空间分辨率
1.2 nm
产品介绍
操作高效便捷
创新的“EM Wizard”界面更加直观，仅需要“点击”即可得到理想的图像。
超前的电脑辅助技术将电镜的操作与控制提升到一个新水平
高性能电子光学系统
• 二次电子分辨率: 顶位二次电子探测器(2.0 nm at 1kV)＊
• 高灵敏度: 高效PD-BSD, 超强的低加速电压性能，低至100 V成像
• 大束流(>200 nA): 便于高效微区分析
性能优异
• 压力可变: 具有优异的低真空(10 -300 Pa)成像性能，配备高灵敏度低真空探测器(UVD)＊
• 开仓室快速简单换样(最大样品尺寸: Φ 200 mm x 80 mmH)
• 微区分析: EDS, WDS, EBSD等等
