阻抗分析仪IM7587
1MHz至3GHz测量频率阻抗分析仪,测试速度为0.5ms,变化率为0.07%。
讎りヲ
Hioki的LCR计和阻抗分析仪从1mHz到3GHz的器件,可满足电子元件测试中的各种应用。IM7587阻抗分析仪在1MHz到3GHz的频率范围内提供了0.5ms的最高测量时间,并具有卓越的稳定性,是铁氧体芯片磁珠和片式电感器的研发和大批量生产的理想选择。
主要特点
- 1MHz至3GHz测试源频率
- 最快的测试速度为0.5毫秒(模拟测量时间)。
- 0.07%的测量值变异性(在3GHz下测量1 nH线圈时)。
- ±0.65% rdg. 基本精度
- 半机架式的机身和手掌大小的测试头。
- 全面的接触检查(通过DCR测试、Hi-Z剔除或波形判断)。
- 在分析仪模式下进行频率扫描、电平扫描和时间间隔测量。
阻抗分析仪IM7580系列:使用SMD测试夹具IM9201进行LCR测量。
IM7580系列包括5种型号,测量频率从1MHz到3GHz。IM7580系列仪器与测试夹具IM9201结合使用,可容纳6种SMD尺寸的测试夹具IM9201,使您可以轻松可靠地测量试样。
阻力仪IM7580系列:比较器功能
比较器功能可让您检查测量值是否在用户定义的判断范围内。该功能是生成试样的PASS/FAIL判断的理想选择。
阻力仪IM7580系列:接触式检测功能
---