多参数试验机
半导体

多参数试验机 - HIOKI E.E. CORPORATION/日置 - 半导体
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产品规格型号

测试类型
多参数
测试产品
半导体

产品介绍

X - Y的类型: 产品性能 这些高速,高精密度,高可靠性居住了于委员会测试器是理想的为高混合低容积生产的飞行探针。 四线式的测量作用使能集成电路被举的主角的侦查并且捉住干燥联接。 能力延伸到FETs、中转和3终端电压调整器活跃巡回内的测试 --认为富挑战性测试到目前为止应用为常规设备发布。 任选功能甚而准许举办简单的功能测量,界限扫瞄和晶体控制振荡器频率计数等等。 一个X - Y的ICT平台设计了,当记住灵活性和未来可伸缩时!

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