各向异性因素测量系统 2-MGEM

光学实验室显微镜

与橡树岭国家实验室合作开发的一个新仪器正在推进对第四代核燃料和反射偏振特性的理解。 2-MGEM光学各向异性系数测量系统是一个正常入射偏振反射显微镜，旨在测量样品穆勒矩阵，是2008年研发100奖得主。 该系统专门设计用于评估TRISO核燃料热碳层截面的光学各向异性系数（OPTAF）。其他可能的材料表征包括在正常入射下测量其他晶体、碳化合物和薄膜涂层（如表面沉积薄膜）的穆勒矩阵元素。 2-MGEM还可以测量延缓（d），圆形消散（CD）和偏振系数（ß）。这些参数用老的技术是无法测量的，因为这些技术没有加入补偿性的光学元件。 联系我们以了解更多关于2-MGEM系统的信息，并了解Hinds仪器如何与我们的客户合作解决复杂的计量问题。 测量TRISO。 了解TRISO内部热碳(IPyC)和外部热碳(OPyC)涂层中石墨的优先取向，可以确定会导致安全壳过早失效的形成取向问题。