双折射测量系统 Exicor® 300 AT
平面度

双折射测量系统 - Exicor® 300 AT - Hinds Instruments - 平面度
双折射测量系统 - Exicor® 300 AT - Hinds Instruments - 平面度
双折射测量系统 - Exicor® 300 AT - Hinds Instruments - 平面度 - 图像 - 2
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产品规格型号

物理量
平面度, 双折射

产品介绍

Exicor 300AT是一个全新的框架设计,支持需要较重或大量样品测量的应用。Exicor®双折射测量系统系列的这一入门级高容量系统为实验室和生产环境带来了效率、改进的负载和坚固性。这个型号很适合较大和较重的样品(最大300mm X 300mm,250+mm厚),以及多个小样品的批量评估。 新的设计有一个重型平台,可以支持更重的样品,并且比以前类似尺寸的Exicor系统更能保持平台的平整度。通过在300AT上添加可选的Exicor Zones™软件,系统可以被设置为执行自动程序,单独扫描每个部件,并为每个 "区域 "指定单独的文件名。这个软件允许用户开始执行例程,并让它运行多个班次、过夜或甚至更长时间(取决于应用),而不必进行干预。 有两种测量范围可供选择(高灵敏度和扩展范围),该系统很适合解决您的大型样品的苛刻要求。可选的高速扫描包使高空间分辨率扫描 特点。 重型自动XY平台 双折射参数的二维和三维图形显示 3个侧边容易进入的平台装载设计 大而灵活的平台设计,可添加定制的零件支架或工艺辅助设备 先进的数据分析功能包含在用户界面的标准中

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