双折射测量系统 Exicor® PV-Si

红外坚固

在硅太阳能电池板的生产过程中，硅晶体中的应力往往在制造过程中很长时间都不会被检测到。Hinds仪器公司开发了一种应力双折射仪器，用于在硅锭被锯成硅片之前对其进行测量，无论是方形还是原生的硅锭。当该仪器被用作质量控制工具时，低质量的硅锭或硅片可以在后续加工成本产生之前被识别出来。此外，该仪器为硅晶体的种植者提供了一个工具，用来提高硅锭的质量，使他们能够生产出更薄的硅片，并降低机械产量损失。 Hinds Instruments的近红外Exicor®双折射测量系统500硅锭是Exicor双折射测量系统家族产品的主力平台的延伸。该系统采用高质量、对称的光弹性调制器、1550纳米激光器和Ge雪崩光电二极管探测器，对光伏和半导体行业中使用的硅材料进行高精度的双折射测量。除了硅以外，蓝宝石、碳化硅、硒化锌、硫化镉等材料也可以用这个系统测量。500硅锭模型坚固耐用，用途广泛，可容纳和测量500毫米长的原始硅锭，最大直径为8英寸。系统设计和直观的自动扫描软件使该产品成为材料改进、研发工作和日常评估原始硅锭以及其他高科技材料的最佳选择。 特点。 在低级别的双折射测量中具有空前的敏感性 同时测量双折射的幅度和角度 精确的可重复性