极化测量系统 PEM 100 series

光学工业用途

双PEM系统提供了进行实时偏振分析测量的能力。当只使用一个PEM时，必须在第一次测量后将样品旋转45°进行两次测量。然而，使用两个PEM彼此呈45°安装，就可以进行实时测量。 Hinds仪器有四种标准的双PEM选择，用于需要不同有用孔径和不同光谱区域测量的应用。 I/FS50-60（和I/FS50-55，I/FS47-50）系统使用I系列PEM。l系列PEM有一个矩形的光学元件，实质上限制了PEM的有用孔径。当光源具有较小的光束直径时，这些小型系统是实用的。因此，如果双PEM的应用涉及到只由一个激光器组成的光源，这是一个可行的选择。 II/FS20-23和II/FS42-47系统也采用高质量的熔融石英作为光学材料，其传输范围为170纳米至2.6微米。这两个型号在可见光和近红外光谱区都具有完全的功能。然而，II/FS20-23系统的好处是有一个更大的孔径。如果光源的光束直径较大或需要容纳一个以上的光源，这一点尤其有用。这种双PEM通常用于斯托克斯偏振计系统，测量从注入托卡马克等离子体的氘原子束中发射的光的线性分量的方向。II/42-47也用于斯托克斯偏振仪的测量，并提供一个更紧凑的光学头配置。