双折射测量系统 Exicor® 250 AT

双折射测量系统 - Exicor® 250 AT   - Hinds Instruments
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双折射测量系统 - Exicor® 250 AT   - Hinds Instruments - 图像 - 2
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产品规格型号

物理量
双折射

产品介绍

250AT是Exicor®双折射测量系统家族产品的升级型号。 这个型号是为了取代过时的Exicor 350AT而开发的,广泛用于重量较轻但较大的样品,如塑料薄膜。 该系统建立在Exicor 150AT的框架上,在保持Exicor 150AT系统的桌面性质的同时,纳入了更大的扫描区域(可达250mm x 250mm)。 这也是大多数客户在选择Exicor ATS(光谱测量)选项以研究不同波长的双折射时选择的系统。 较大的平台尺寸也允许在平台上装载多个小零件,并与可选的Exicor Macro+软件结合,执行自动程序,单独扫描每个零件。 用户可以开始执行例程,并让它运行多个班次、通宵甚至更长时间(取决于应用)而无需干预。 有两种测量范围可供选择(高灵敏度和扩展范围),该系统很适合解决您的大型轻质样品的苛刻要求。 可选的高速扫描包使高空间分辨率的扫描(<1mm的网格间距)成为现实。 特点。 -250毫米自动XY平台 -双折射参数的2D和3D图形显示 -大而灵活的平台设计,可添加定制的零件支架或工艺辅助工具 -先进的数据分析功能包含在用户界面的标准中 可选项。 额外的偏振参数 Hinds Scan in Motion TM (高速扫描) 光谱和RGB测量 定制波长(可见光、近红外)。 手动和自动倾斜台

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* 显示价格为参考价,此价格不含税、不含运费、不含关税,也不包含因安装或投入使用所产生的其他额外费用。参考价格可能因国家、原材料价格和汇率的不同而产生变化。