双折射测量系统 Exicor® OIA

定向角向极化

Hinds™ Instruments Exicor® OIA是主要的双折射测量系统，用于评估正常和斜入射角的透镜、平行面光学器件和曲面光学器件。该系统建立在Hinds Instruments获奖的基于Exicor双折射测量技术的光弹性调制器（PEM）上。这个新一代的双折射测量系统为行业提供了分析和开发下一代光刻镜头、镜坯和高价值贵重光学器件的新能力。 该系统利用PEMs来调制光束的偏振状态，并利用先进的检测和解调电子技术来测量光学器件如何改变偏振状态。这导致测量一个偏振状态相对于另一个偏振状态的90°的光延迟。双折射和快轴方向，以及理论上的残余应力，都可以通过这些数据进行评估。 Hinds仪器和Exicor斜入射角技术已被平版印刷透镜毛坯和成品透镜的世界领导者选中，用于评估研究和生产中的光学双折射。我们的系统是没有人可以超越的! 标准功能。 - Exicor OIA软件 - 自动扫描平行平面和球面透镜类型 - 非球面可通过手动微距程序进行扫描 - 迟钝和快速轴方向的2D地图 - 扫描统计 - 舞台正向负载位置（从上面自由进入样品舞台） - 带安全联锁的紫外线和激光光罩 - 紧急关机按钮 - 系统状态灯塔 - 带计算机和显示器的用户工作站