双折射测量系统 Exicor® GEN series

Exicor® GEN5和GEN6系统是建立在Exicor核心的低水平双折射测量技术和精密的自动运动控制元件上的大型样品测量装置。 这些平台提供无与伦比的低水平双折射测量，以支持LCD行业显示相关材料的精确表征（第5代以上补偿膜和玻璃基板等），系统向后兼容早期型号。 系统设计可以扩展到更大的材料，并且可以很容易地适应其他非显示材料的应用，如低科技的薄板材料和商业窗户玻璃。 GEN5系统的可扫描面积为1150毫米x1375毫米，它使用专利的高张力线栅平台，最大限度地扩大样品的可测量面积，同时最大限度地减少样品的下垂和弯曲。 有了可选的高速Scan In Motion™ (SIM)选项，该系统可以在普通扫描所需时间的一小部分（估计仅需12分钟）内完成样品的表征。