次级离子化质谱光谱仪 FIB-SIMS

用于分析高敏感度

在你现有的FIB系统上增加高性能的SIMS功能 海登分析公司为现有的聚焦离子束（FIB）系统提供高性能的螺栓式二次离子质谱（SIMS），为先进的纳米级材料分析提供出色的表面特异性和自然的高动态范围。我们的FIB-SIMS系统准备提高您的操作，从常规检测任务到复杂的样品制备。 纳米材料分析是指一个不断增长的仪器领域，重点是检测低至百万分之一（ppm）范围内的痕量和超痕量元素。这对高灵敏度的三维（3D）元素图谱和深度剖析至关重要；这两种材料分析的关键方法都适用于分析和制备材料的鉴定应用。 聚焦离子束二次离子质谱法（FIB-SIMS）是高灵敏度纳米级材料分析中最强大的材料鉴定技术之一。它结合了SIMS的特殊表面灵敏度和聚焦一次离子束，为感兴趣的材料的最上层纳米层的定性成分分析奠定了基础。 FIB-SIMS可以提供基于同位素和离子（原子和分子）检测的关键元素数据，具有广泛的适用领域。 纳米级元素表面测绘 三维深度测绘 材料分析 卓越的灵敏度和动态范围 定制的软件界面 特征质谱 "模式允许从感兴趣的特定区域获得质谱数据，如污染物、晶界等 可为任何FIB系统提供定制的安装方案