四极光谱仪 EQS

次级离子化质谱用于分析高敏感度

一种用于分析固体样品中的次级正负离子的系统 海顿分析公司为离子分析提供世界级的质谱解决方案和创新工具，包括久经考验的海顿EQS。这种高传输静电四极杆二次离子质谱仪（SIMS）是我们最受欢迎的检测系统之一，用于研究规模的薄膜纳米级表面分析。EQS SIMS分析仪是XPS和聚焦离子束FIB显微镜系统的理想附加分析仪。 用于纳米级材料分析的FIB-SIMS系统 电池研究 核材料 超高压表面科学 海顿EQS是一个独特的静电四极SIMS检测器，专门用于固体样品中正(+ve)和负(-ve)二次离子的质谱分析。凭借其集成的45°静电扇形离子能量分析器，Hiden EQS可以同时分析离子能量，分辨率为0.2电子伏特（eV）。这使得它成为质谱应用中最通用的离子分析工具之一，包括：1： 将XPS的灵敏度范围扩大1000倍以上 动态和静态SIMS 焦点离子束（FIB）质谱分析 二级中性质谱(SNMS) 溅射深度分析 溅射离子和中性质量/能量分析 海登EQS是后市场系统的一个流行的螺栓配件，是XPS系统和聚焦离子束FIB显微镜系统等的理想补充，它提供高灵敏度和可选的差分泵，以满足用户在一系列应用中的成像、深度剖析和质谱要求。