四极光谱仪 ToF-qSIMS

次级离子化质谱测量用于分析

创新的飞行时间四极杆SIMS系统 海登TOF-qSIMS系统是为广泛的材料的表面分析和深度剖析应用而设计的，包括聚合物、药品、超导体、半导体、合金、光学和功能涂层以及电介质，测量的微量成分可达到subppm水平。 表面分析 薄膜和表面工程 表面科学 纳米技术 燃料电池 新的Hiden TOF，飞行时间分析仪增强了SIMS，为用户提供了高性能四极SIMS的最佳动态范围，以及飞行时间SIMS的平行数据收集和分子碎片分析的优势。 TOF-qSIMS的能力使高光谱成像成为可能，以实现空间分辨率的详细材料分析。 TOF-qSIMS系统提供了静态TOF-SIMS的综合能力，以及四极SIMS的高动态范围深度分析。 TOF-qSIMS工作站系统完全集成并优化了高性能的SIMS分析，包括一个多孔超高压室、TOF-SIMS分析仪、海登的MAXIM四极SIMS分析仪、IG20气体主离子枪、Cs金属离子枪和一个为适应最广泛样品范围而设计的样品支架。 高灵敏度的SNMS模式包括对冶金薄膜、导电和非导电氧化物以及其他合金材料和涂层的定量分析。SIMS增强设施，包括氧气淹没、电子电荷中和和真空烘烤，都是标准配置。 SIMS Mapper PC软件选项提供了对样品区域的二维和三维视图的映射能力。