校准软件 WinFTM®

管理分析静态分析

FISCHERSCOPE® X-RAY 仪器的数学核心。 市场上使用 X 射线荧光分析进行涂层厚度测量和材料分析的功能最强大的软件。 高效管理和评估测量数据。 无论是进货检验、质量控制还是研究实验室，对优秀测量技术软件的要求与 FISCHERSCOPE® X-RAY 仪器的应用范围一样各不相同。为了满足所有这些要求，WinFTM® 提供了快速测量、有效评估和专业记录测量数据所需的功能和特性。 可溯源的测量结果。 简单而有指导性的校准工作流程和带有 DAkkS 证书的 Fischer 校准标准 无标准的精确测量。 基于持续开发的基本参数算法测量涂层厚度和材料成分 自动化。 编程并自动执行重复测量序列 评估方便。 广泛的统计评估，包括统计过程控制 (SPC) 直接导出数据。 轻松将数据导出到各种接口，如质量管理系统 轻松创建数据报告。 只需点击一下，即可创建完全自定义的报告和个性化测量协议