涂层厚度测量系统 FISCHERSCOPE® X-RAY

X 射线工业用途坚固

测量大型工件。 大型专用外壳，用于集成费舍尔 X 射线测量技术，测量大型工件的涂层厚度和材料分析。 用于超大型样品的 X 射线荧光分析。 FISCHERSCOPE® X-RAY 模块化箱体将大型箱体与 Fischer 成熟的 X 射线荧光测量技术相结合。您可以选择将测量技术安装在适合您需求的箱体内。可集成 FISCHERSCOPE® 、 和 系列设备。 可靠。 通过整个样品表面的测量点进行精确测量 大处着眼。 用于大型样品的大型腔体 量身定制。 不同型号可为您的应用和要求提供最佳解决方案；灵活且可模块化扩展 可配置。 根据您的要求确定尺寸和设计 成熟的软件。 Fischer WinFTM® 软件可确保您获得最全面的功能和测量应用 二合一。 坚固的外壳和成熟的费舍尔测量技术