X射线荧光光谱仪 FISCHERSCOPE® XDV®-µ PCB
用于分析专业用途用于厚度测量

X射线荧光光谱仪
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产品规格型号

类型
X 射线荧光
应用领域
用于分析, 专业用途, 用于厚度测量
其他特性
自动化, 数字

产品介绍

用于 PCB 的专业系列。 可靠、全自动!XDV®-µ PCB 设备是测量电路板上最小结构和极薄涂层的专业解决方案。 Fischer DPP+ ¹ 即使测量时间短也能达到最高精度 内部生产的聚毛细管光学元件²,最小光斑尺寸 10 µm (FWHM) 自动图像识别,可对小型结构进行可靠测量 对 PCB 进行自动 XRF 质量控制。 FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ PCB 是利用 X 射线荧光对 PCB 进行可靠质量控制的真正专家。得益于功能强大的硅漂移探测器、超微聚焦管和聚毛细管光学元件,XRF 仪器能以极高强度测量极小的测量点。因此,即使是最薄的层,也能可靠地进行测定。该设备还符合 IPC 对ENIG 和 ENEPIG 的要求 4552 和 4556,以及 4553A(银)和 4554(锡)。 迎接所有挑战。 可靠、快速的结果,满足高要求的测量任务 完全自动化。 让仪器为您工作 PCB 专家。 印刷电路板专业测量解决方案,符合 IPC 标准 市场上最先进的聚毛细管光学元件。 我们自行生产的聚毛细管光学元件可在较短的测量时间内提供出色的测量结果 准确、精确。 通过自动图像识别功能在小型结构上定位测量点 调试。 极其快速简单 DPP+ 数字脉冲处理器。 缩短测量时间或改善标准偏差*。

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* 显示价格为参考价,此价格不含税、不含运费、不含关税,也不包含因安装或投入使用所产生的其他额外费用。参考价格可能因国家、原材料价格和汇率的不同而产生变化。